Перевод терминов

Перевод терминов

Сообщение Интегральный вычислитель » 17 май 2008, 22:38

В современной иностранной (на английском языке ) литературе в области вычислительной и близких к ней областей существуют достаточно много специальных терминов.Читая такую литературу любой американский инженер, вероятно, чувствует себя в родной стихии. Тоже самое я могу сказать про себя, читающего англоязычные статьи про программированию, термины мне хорошо знакомы и я знаю их русские аналоги.
Но, когда я читаю статьи в области схемотехники, ситуация совершенно иная. Мои ощущения можно сравнить с ощущениями студента, попавшего в первый раз в жизни на лекцию по математическому анализу (последнюю лекцию в семестре, как часто случается с современными студентами. Хотя, я чувствую, что между моим пониманием схемотехники и её современным уровнем, расстояние больше одного семестра :D ).
Хорошо когда есть русская литература на эту же тему, это позволяет сориентироваться. Прочитав одну русскую книжку, читать английские гораздо проще (русские аналоги терминов понимаются из контекста). Но, к сожалению, отечественные электронщики плотно окопались и не дают доступ к секретным знаниям. Или, быть может, последний писк моды в российской электронике - это исследование переходных процессов в полевом транзисторе методами векторного анализа.
Посему предлагаю обсудить переводы злополучных басурманских терминов. Думаю я не один такой непосвященный, или все давно уже отправились в паломничество на восток?
I Have Seen The Truth And It Doesn't Make Any Sense
Аватара пользователя
Интегральный вычислитель
 
Сообщения: 561
Зарегистрирован: 02 апр 2008, 16:04
Откуда: из Леса

Re: Перевод терминов

Сообщение Интегральный вычислитель » 17 май 2008, 22:42

switch-level - один из уровней представления цифровой аппаратуры (стоит в одном ряду с RTL, вентильным уровнем). Перевод Lingvo - уровень переключателей. Кто-нибудь может пояснить в чем суть этого уровня, или есть более корректный перевод?

fault model - модель неисправности, модель дефекта, модель ошибки : какой вариант корректнее? Статья в wiki http://en.wikipedia.org/wiki/Fault_models
I Have Seen The Truth And It Doesn't Make Any Sense
Аватара пользователя
Интегральный вычислитель
 
Сообщения: 561
Зарегистрирован: 02 апр 2008, 16:04
Откуда: из Леса

Re: Перевод терминов

Сообщение Интегральный вычислитель » 17 май 2008, 22:47

Насколько я понял switch-level это что-то типа LD ( Ladder Diagram ) в языках IEC 1131-3
I Have Seen The Truth And It Doesn't Make Any Sense
Аватара пользователя
Интегральный вычислитель
 
Сообщения: 561
Зарегистрирован: 02 апр 2008, 16:04
Откуда: из Леса

Re: Перевод терминов

Сообщение kluchev » 17 май 2008, 22:53

Ты будешь смеяться, но много русских терминов придётся выдумывать на ходу. Насколько я знаю, в этом деле могут помочь Кустарёв и Платунов. Платунова я попытаюсь заманить на форум...

На Биржевой (у меня на столе) лежит толковый словарь на эту тему. Часть (небольшая правда) терминов там должна быть.
В споре рождается коллективное заблуждение, а истиной мы его называем для краткости
Аватара пользователя
kluchev
 
Сообщения: 995
Зарегистрирован: 04 апр 2008, 13:31
Откуда: SPb

Re: Перевод терминов

Сообщение Интегральный вычислитель » 18 май 2008, 00:02

test pattern - тестовый шаблон, тестовый вектор, тестовая последовательность. Какой термин лучше использовать?
I Have Seen The Truth And It Doesn't Make Any Sense
Аватара пользователя
Интегральный вычислитель
 
Сообщения: 561
Зарегистрирован: 02 апр 2008, 16:04
Откуда: из Леса

Re: Перевод терминов

Сообщение Shico » 18 май 2008, 00:17

switch-level - вентильный уровень (http://www.multitran.ru/c/m.exe?l1=1&l2=2&s=switch-level+)
test pattern - тестовая структура (хотя, данный термин сильно зависит от контекста) (http://www.multitran.ru/c/m.exe?l1=1&l2=2&s=test+pattern)
"Раньше гусиными перьями писали вечные мысли, а теперь вечными перьями пишут гусиные мысли". В. Солоухин
Аватара пользователя
Shico
 
Сообщения: 301
Зарегистрирован: 06 апр 2008, 16:15
Откуда: Санкт-Петербург

Re: Перевод терминов

Сообщение Интегральный вычислитель » 18 май 2008, 00:32

Shico писал(а):switch-level - вентильный уровень (http://www.multitran.ru/c/m.exe?l1=1&l2=2&s=switch-level+)

Вентильный уровень - gate level. На данный момент я думаю что swith-level - транзисторный уровень.

test pattern - тестовая структура (хотя, данный термин сильно зависит от контекста) (http://www.multitran.ru/c/m.exe?l1=1&l2=2&s=test+pattern)

плохой вариант. Вообще test pattern - это набор значений на входе схемы, поэтому мне больше всего нравиться вариант тестовый вектор
I Have Seen The Truth And It Doesn't Make Any Sense
Аватара пользователя
Интегральный вычислитель
 
Сообщения: 561
Зарегистрирован: 02 апр 2008, 16:04
Откуда: из Леса

Re: Перевод терминов

Сообщение Интегральный вычислитель » 18 май 2008, 00:39

sequential circuit - lingvo: последовательная схема ; multitran: последовательностная схема. Если разница в терминах последовательный и последовательностный? Насколько я понимаю, имеется ввиду схема с памятью?
I Have Seen The Truth And It Doesn't Make Any Sense
Аватара пользователя
Интегральный вычислитель
 
Сообщения: 561
Зарегистрирован: 02 апр 2008, 16:04
Откуда: из Леса

Re: Перевод терминов

Сообщение Интегральный вычислитель » 19 май 2008, 13:37

Типы неисправностей в микросхемах:
CMOS transistor stuck-on faults - постоянно открытый транзистор?
adjacent bridging fault - замыкание ?
I Have Seen The Truth And It Doesn't Make Any Sense
Аватара пользователя
Интегральный вычислитель
 
Сообщения: 561
Зарегистрирован: 02 апр 2008, 16:04
Откуда: из Леса

Re: Перевод терминов

Сообщение kluchev » 19 май 2008, 14:20

Раб Лампы писал(а):Типы неисправностей в микросхемах:
CMOS transistor stuck-on faults - постоянно открытый транзистор?




В настоящее время разработана теория диагностирования цифровых схем, ориентированная на обнаружение класса константных неисправностей (stuck-at, SA), т. е. предполагается, что появление дефекта эквивалентно присваиванию определенной точке схемы постоянного значения 0 или 1. Этот класс неисправностей хорошо отражает реальные технологические и эксплуатационные дефекты схем, выполненных по ЭСЛ- и ТТЛ-технологиям. Однако в схемах, выполненных по технологии КМОП, реальные дефекты слабо покрываются моделью неисправностей stuck-at и тесты ориентированные на эти неисправности, не могут эффективно обнаруживать дефекты КМОП-схем. Анализ причин дефектов показывает, что большая их часть приводит к образованию неисправностей "устойчивый обрыв транзистора" (stuck-open, SOP) и "устойчивое замыкание транзистора" (stuck-on, SON). Неисправности stuck-open переводят схему из класса комбинационных в класс последовательных, неисправности stuck-on приводят к появлению на выходах схемы неустойчивых сигналов, имеющих промежуточное значение между 0 и 1. Решение задачи тестирования КМОП-схем связано прежде всего с разработкой эффективной модели неисправностей [1, 2].


http://masters.donntu.edu.ua/2001/fvti/tereschuk/diss/g1.htm

Если определения нормальные найдутся, ты их в wiki запихай, pls...
В споре рождается коллективное заблуждение, а истиной мы его называем для краткости
Аватара пользователя
kluchev
 
Сообщения: 995
Зарегистрирован: 04 апр 2008, 13:31
Откуда: SPb

Re: Перевод терминов

Сообщение kluchev » 19 май 2008, 14:26

Раб Лампы писал(а):adjacent bridging fault - замыкание ?
f33-ft-computing-lec06-testing.ppt
Тут есть кое-какие определения по видам ошибок.
(718 Кб) Скачиваний: 509
В споре рождается коллективное заблуждение, а истиной мы его называем для краткости
Аватара пользователя
kluchev
 
Сообщения: 995
Зарегистрирован: 04 апр 2008, 13:31
Откуда: SPb

Re: Перевод терминов

Сообщение Интегральный вычислитель » 19 май 2008, 14:52

kluchev писал(а):
Раб Лампы писал(а):adjacent bridging fault - замыкание ?
f33-ft-computing-lec06-testing.ppt

спасибо..

burn-in test - испытание огнем :D
I Have Seen The Truth And It Doesn't Make Any Sense
Аватара пользователя
Интегральный вычислитель
 
Сообщения: 561
Зарегистрирован: 02 апр 2008, 16:04
Откуда: из Леса

Re: Перевод терминов

Сообщение Интегральный вычислитель » 28 май 2008, 12:38

transaction-level modeling - что-то высокоуровневое... непонятно :(

p/s Павел Валерьевич подтвердил, что switch-level - транзисторный уровень
I Have Seen The Truth And It Doesn't Make Any Sense
Аватара пользователя
Интегральный вычислитель
 
Сообщения: 561
Зарегистрирован: 02 апр 2008, 16:04
Откуда: из Леса

Re: Перевод терминов

Сообщение kluchev » 28 май 2008, 13:41

Раб Лампы писал(а):transaction-level modeling - что-то высокоуровневое... непонятно :(


Может быть имеется в виду всего-навсего RTL?
В споре рождается коллективное заблуждение, а истиной мы его называем для краткости
Аватара пользователя
kluchev
 
Сообщения: 995
Зарегистрирован: 04 апр 2008, 13:31
Откуда: SPb

Re: Перевод терминов

Сообщение Соратник слонопотама » 25 дек 2008, 15:32

kluchev писал(а):Может быть имеется в виду всего-навсего RTL?

нет
Аватара пользователя
Соратник слонопотама
 
Сообщения: 250
Зарегистрирован: 16 апр 2008, 13:18

Re: Перевод терминов

Сообщение Соратник слонопотама » 25 дек 2008, 15:50

Параметры выходов микросхем:

source current - ток, "предоставляемый" выводом в выходную цепь, соответствует положительному относительно вывода напряжению на нагрузке

sink current - ток, "принимаемый" выводом из выходной цепи, соответствует отрицательному относительно вывода напряжению на нагрузке

Пример. Предположим, выходной буфер микросхемы обеспечивает логическую единицу на уровне 3,3 В, а логический ноль - на уровне 0 В. Этот буфер подключен к выводу микросхемы. Если этот вывод подключить к внешнему источнику напряжения +12 В через резистор сопротивлением 1000 Ом, то выходной буфер микросхемы, находясь в логической единице, начнет потреблять (sink) ток, равный (12-3,3) / 1000 = 0,0087 А = 8,7 мА, а находясь в логическом нуле - (12-0) / 1000 = 0,012 А = 12 мА. Если в документации на микросхему указано, что максимальный "принимаемый" выходным буфером ток равен 10 мА, то он будет нормально работать, пока находится в логической единице, и сгорит при переключении в логический ноль. Если же вывод микросхемы подключить к земле через резистор 10 КОм, то выходной буфер, подключенный к этому выводу, находясь в логической единице, будет "предоставлять" (source) (3,3-0) / 10^4 = 0,00033 А = 0,33 мА, а находясь в логическом нуле, не будет "предоставлять" ток вообще (0-0) / 10^4 = 0 А. Выходной буфер не может "предоставить" больше тока, чем указано в документации, поэтому не может при этом сгореть.
Аватара пользователя
Соратник слонопотама
 
Сообщения: 250
Зарегистрирован: 16 апр 2008, 13:18


Вернуться в Схемотехника

Кто сейчас на конференции

Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и гости: 0

cron